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IC芯片有哪些常见的缺陷,x射线探伤机如何检测缺陷?
分类:公司动态
发布时间:2022-09-22
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IC芯片是由大量的微电子元器件如晶体管、电阻、电容等组成的,包含晶圆芯片和封装芯片。因此, IC 芯片生产线主要是由晶圆生产线和封装生产线两部分组成。IC对于离散晶体管而言,主要有两方面优势,一个是成本,另一个就是性能。芯片通过照相平板技术将所有的组件作为一个单位印刷,而不是在一个时间只制作一个晶体管,所以说成本比较低。组件能够快速开关,组件很小且彼此靠近,因此消耗的能量更低,性能也就高了。


IC芯片内部异物,如金属丝、多余线、多余Die等, IC芯片线性缺陷,如塌线、线摆、线紧、线弧低、线弧高、平顶等都是比较常见的缺陷类型。x射线探伤机是在不损坏工件或原材料工作状态的前提下,利用发射出的x射线检查金属与非金属材料及其制品的内部缺陷。因此,在半导体行业普遍来检测IC芯片。


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x射线探伤机是无损检测的主要方法之一,在质量控制与产品检修中有着重要的作用,广泛应用于航空航天、汽车生产及电子产品生产质量管控、电子线路板检查、焊缝和管道线检查等。工业用的x射线探伤机有台式和携带式两大类,主要由x射线机头(x射线管)、高压发生装置、供电及控制系统和冷却防护设施四个部分组成。正业科技x射线探伤主要是利用x射线来穿透物质,x射线具有穿透性,能穿透可见光不能穿透的物质。此外,因x射线在物质中有衰减的特性,所以x射线透过样品时,会产生吸收现象,物质密度、厚度的不同会使x射线影像成像出现差异,由此测量、判断良品与不良品,并将缺陷检测出来。


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